Z. Engin Erkmen
NOBEL AKADEMİK YAYINCILIK
Liste Fiyatı: 16,65 €
Kitapavrupa Fiyatı: 10,82 €
SATIŞ VAR (Geçici Olarak Temin Edilemiyor)
Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karakterizasyonu ve Temel İlkeleri başlıklı bu çalışmanın, ülkemizde bu konuda mevcut bir literatür eksikliğini gidermesi amaçlanmıştır. Eserde, optik mikroskop teknikleri, polarizasyon, X-ışınları ve elektron difraksiyonu, kristal yapısının belirlenmesi, elektron mikroskopisi ve spektroskopisi, Termal Analiz Süreçleri, FTIR (Fourier Transform Infrared Spektroskopisi), Floresan Mikroskopisi, DTEM (Dinamik Transmisyon Elektron Mikroskopisi), AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) bir bütün olarak ele alınmış ve fizik problemleriyle desteklenmiştir. Sınav, ödev soruları ve cevapları da öğrencilere uygulama olması açısından ilave edilmiştir. Okuyucu, ayrıca Ek’ler kısmında ana metin ile ilgili daha karmaşık matematik çözümleri, ekstra tabloları, konularla ilgili örnekleri, buluşlara imza atmış tanınmış bilim insanlarının biyografilerini ve bilim tarihi ile ilgili makaleleri bulacaktır.
ISBN
6050330687
Baskı Sayısı
1
Dil
TÜRKÇE
Sayfa Sayısı
444
Cilt Tipi
Karton Kapak
Kağıt Cinsi
1. Hm. Kağıt
Boyut
16 x 23.5 cm
Yorum Ekle
Arama
Anasayfa
Kampanyalar
Kategoriler
Sepetim
Alışveriş Listem
Favoriler
Üyelik